В ДонНТУ пройдёт Всероссийская научно-практическая конференция молодых учёных, аспирантов, студентов «Использование современных управленческих технологий в целях повышения эффективности деятельности предприятий»

26.11.24

В Донецком национальном техническом университете на кафедре управления качеством факультета интегрированных и мехатронных производств 12 декабря состоится Всероссийская научно-практическая конференция молодых учёных, аспирантов, студентов «Использование современных управленческих технологий в целях повышения эффективности деятельности предприятий».

Цель мероприятия – обмен научно-технической и методической информацией, определение основных задач и направлений решения проблем управления качеством в современных условиях.

Основная тематика конференции

  1. Современные направления развития систем управления. Интегрированные системы управления.
  2. Внедрение Всеобщего управления качеством (TQM) на предприятиях национальной экономики.
  3. Экономические механизмы управления качеством.
  4. Метрология, стандартизация и контроль качества продукции.
  5. Управление экологической безопасностью в рамках системы экологического менеджмента.
  6. Пути решения проблем устойчивого развития национальной экономики.

7.Проблемы интеллектуальной собственности.

  1. Национальная технологическая инициатива как платформа стимулирования развития новых технологий

Рабочие языки конференции – русский, английский.

Контактное лицо – Ирина Сергеевна Кладченко, тел. +7(949) 452-96-59, «Телеграм» – https://t.me/ikladch,    е-mail:  This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.

Подробнее

Contact Information

Press service:
(071) 321-44-48
E-mail: min.obraz.dnr@mail.ru

Reception:
(071) 321-44-37
Universitetskaya St., 83A, Donetsk
E-mail: info@mondnr.ru

Hot lines:
(071) 321-44-48 General
(071) 320-38-35 VPO 
(071) 302-65-19 SPO

We are in the Internet:

 
We use cookies to improve our website. By continuing to use this website, you are giving consent to cookies being used. More details…